永磁體霍爾效應測試儀的相關介紹
產品簡介：
霍爾效應系統組成：本儀器系統由永磁體、高精度恒流源高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高精度高斯計和系統軟件組成。為本儀器系統專門研制的JH10 效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。JH10 可單獨做恒流源、微伏表使用。用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必*的工具。 實驗結果由軟件自動計算得到，可同時得到體載流子濃度(Bulk Carrieroncentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等。
可測試材料:
半導體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等；
低阻抗材料：石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR 材料等；
高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等
JH60 測試時，只需要輸入三個關鍵參數即可進行測量，磁場的轉換為手動轉換，需要轉換磁場方向時程序會彈出信息框，根據測試程序的提示完成相應的操作即可獲得樣品需要的參數。
測量時只需要設置好樣片通過的電流、樣片所在磁場環境的磁場大小、樣品厚度即可進行測量，數據可以繪圖，可以導出至EXCEL中以便后期處理及使用。
